半导体器件如何检测和筛选 专业第三方检测中心

2022-12-16  |  来源:互联网 163浏览

在半导体电子元器件的筛选中,可靠性筛选不能提高产品的固有可靠性,但是有效的筛选通过发现设计和制造方面所引起的缺陷,反馈到设计、生产的质量控制中去,以便采取纠正措施,真正提高产品的可靠性。要注意质量控制,合理运用元器件的性能参数,发挥电子元器件的功能作用。本文收集整理了一些资料,期望能对各位读者有比较大的参阅价值。

一、检查外观质量

这是简单可行的检验方法,能发现一些电子元器件的早期缺陷和采购过程中的损坏。在对电子元器件识别与检测进行时应按照如下操作进行:

1)要检查元器件的型号、规格、厂商、产地必须与设计要求相符合,外包装完好。

2)检查元器件的外观必须完好,表面没有无凹陷、划伤、裂纹等缺陷,外部如有涂层的元器件必须无脱落和擦伤。

3)元器件的电*引线要无压折和弯曲,镀层要完好光洁,无氧化锈蚀。

4)元器件上的型号、规格标记要清晰、完整,色标位置、颜色要满足标准,应认真检查集成电路上的字符。

5)机械结构的元器件尺寸要合格、螺纹灵活、转动手感合适。

6)开关类元件操作灵活,手感良好;接插件松紧要适宜,接触良好。各种电子产品中的元器件均有自身特点,检查时要按各元器件的具体要求确定检查内容。

二、电气性能筛选

为保证电子产品稳定可靠,对上机的元器件进行筛选是一个重要环节。筛选时要按元器件使用要求,对电子元器件施加一种或多种应力使其缺陷暴露,排除早期失效。筛选试验及施加应力要在合适范围,使有缺陷元器件失效,质量好的元器件会通过试验。

1、元器件效能曲线

电子元器件的效能曲线,即浴盆曲线,反映了元器件在使用中的失效规律。一般在元器件刚投入使用时,会因元器件制造过程中原材料、设备、工艺等缺陷导致失效率较高。元器件使用一段时间后,元器件的失效率较低,即偶然失效期。

过了正常使用期后,元器件进入老化失效期,即损耗失效期,该元器件时间工作寿命结束在老化失效期,元器件的失效率增高。

2、电子元器件的筛选和老化

元器件的老化的筛选,应人为制造元器件早期工作条件,使元器件处在模拟的工作伏态下,把早期失效的产品在使用前剔除,提高产品的可靠性。在生产过程中,筛选老化包括高温存储老化,高低温循环老化,高低温冲击老化和高温功率老化等。随着元器件生产水平的提高,要按不同产品要求,国家和企业标佳选择不同的老化筛选要求和工艺。

对于可靠性要求*高的电子产品或设备中使用的典型元器件,需****进行筛选;对要求不高的民品中使用的元器件,要采用抽样检测方式;对一般的电子产品研制和制造中使用的元器件,应采用自然老化和简易电老化方式。

3、参数性能检测

经外观检查及老化的电子元器件,要进行性能指标的测试,淘汰已失效的元器件。检测前,应对电子元器件检测中常见问题及解决方案有一个全面的了解。

要求有多种通用或专门测试仪器,一般性的电子设计或电子设备中使用的元器件,应运用万用表等普通仪表检测。在使用万用表进行检测时,要注意万用表的使用要求,正确地使用。

1)一般的万用表有模拟指针式和数字式两种。前者可靠耐用、直观,但读数不精确,分辨力低;后者读数精确直观,输入阻杭高,使用维护的要求也较高。

2)两种万用表使用时要求选择功能和插孔:指针式一般测大电流高电压时有专门插孔;数字式在测200mA以上电流时用专用插孔,一些型号的万用表的电流挡均用专用插孔。

3)选择量程时要注意指针式万用表指示在约为满刻度的30%~35%和65%~70%处误差较小。若被测量不好确定范围,要从*大量程逐步转换。

4)在使用万用表时,人体不可接触表笔的金属部分,确保测量准确和人身安全。

5)测量高电压或大电流时,不可在测量中换档,要换挡时要断开表笔,选好量程后接上表笔实施测量,不然会损坏万用表。

6)测量二*管与整流器、三*管、铝电解电容器等有*性元器件,要注意表笔*性。在电阻挡,指针式万用表的红表笔接万用表内部电源的负*,黑表笔接内部电源的正*数字式万用表的红表笔接万用表内部电源的正*,黑表笔接内部电源的负*。

在万用表不能满足测试要求时,应选择使用LRC手持电桥测量电阻、电容和电感及品质因数等参数,要选用合式多用表测量电压电流、电阻、频率等参数。选用手持电桥和台式多用表进行相关参数的测量,测试精度比万用表高,还在万用表不具备的测量功能。

虽然世界上有非常多的电子电气产品的测试体系,但是这些测试的内容大多殊途同归。测试的主要目的都是要求产品能够保证使用人员的健康安全。为了减少筛选和检测的工作量,购买一家品质有保障的电子元器件就显得尤为重要。公司检测服务范围涵盖:电子元器件测试验证、IC真假鉴别,产品设计选料、失效分析,功能检测、工厂来料检验以及编带等多种测试项目。欢迎致电百检检测,我们将竭诚为您服务。

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