在超声波显微镜(SAT)检测:捕捉元器件封装内部缺陷

2022-12-16  |  来源:互联网 178浏览

超声波显微镜,英文名ScanningAcousticTomography,简称SAT。超声波发射后传递到样品封装内部,如遇到任何缺陷点都会表现在反射波的形态中。设备根据反射波的形态计算出图像,检测人员可快速锁定缺陷的位置、尺寸和类型。

超声波显微镜分析在物料检测(IQC)、失效分析(FA)、质量控制(QC)、质量保证及可靠性检测(QA/REL)、研发(R&D)等方面都有广泛应用,适用于检测电子元器件、LED、金属基板的分层、裂纹、空洞等缺陷。

提到SAT,就很容易联想到同为无损检测的X-Ray,它们的成像原理不同,在实际检测工作中也是互补关系。本期内容我们将重点了解SAT测试,至于它们的差异我们以后有机会给大家介绍。

超声波扫描显微镜具有如下特性:

1:非破坏性,对样品内部封装状况不产生损伤;

2:检测时对样品无特殊要求,表面平整即可检测;

3:能得出直观的图像,便于分析;

4:对样品及人体无害;

百检在线检测中心已配置低频15MHz、30MHz、40MHz、75MHz,到高频100MHz、230MHz等全系探头,可满足DIP,PLCC,TO,QFP,BGA,SOP,SOT,QFN,TQFP,DFN,FlipChip,WLCSP等不同封装的集成电路及PCB检测。

需要注意,进行SAT检测时,样品要置于水中,因为超声波是以水作为传输的介质;检测完成后,样品需要进行烘烤,以恢复原来状态。实际应用中,超声波扫描的反射模式和透射模式我们都会用到,前者可聚焦样品封装内的某一层,锁定缺陷的具体位置,后者则是穿透样品的上下两个面,全方位地查找缺陷。

下面我们来看一些不同封装的样品接受SAT检测的案例:

案例一、SOT封装检测案例案例二、SOP8封装检测案例案例三、QFP封装检测案例案例四、TO封装检测案例

从以上四个案例可见,SAT检测可准确找出样品内部缺陷点,是检测工作中不可缺少的“利器”。如您在物料品质管控以及失效分析等方面有任何SAT检测的需求,可随时与我们联系。

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