半导体集成电路（时基电路）检测

百检检测第三方检测机构，为企业提供相关CNAS、CMA、CAL等资质认证检测报告，始终以以企业为首任，以客户为中心，在严格的程序下开展检测工作，为客户提供产品检测及质量控制的解决方案，竭诚为广大客户提供科学科学的检验、研发分析服务。

检测流程

1、寄样

2、核对需求

3、针对性报价

4、双方确定，签订合同，开始实验

5、完成实验：检测周期(可加急)会根据样品及其检测项目/方法会有所变动，可咨询工程师

6、出具检测报告，后期服务。

检测项目：

复位触发电流I_R,阈值电压V_T,阈值电流I_T,静态电源电流I₊,复位电压V_{R,复位电流IR,控制端电压VC,触发电压VTR,触发电流ITR,阈值电压VTR,阈值电流IT,静态电源电流I+,复位电压,复位电流,控制端电压,电源电流,触发电压,触发电流,输出低电平电压,输出高电平电压,阈值电压,阈值电流,静态电源电流,复位电压VR,复位电流IR,控制端电压VC,触发电压VTR,触发电流ITR,输出低电平电压VOL,输出高电平电压VOH,阈值电压VT,阈值电流IT,静态电源电流I+,复位电压VR,复位电流IR,控制端电压VC,触发电压VTR,触发电流ITR,输出低电平电压VOL,输出高电平电压VOH}

检测标准：

1、GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

2、GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 2.1

3、GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇第2节 1

4、GB/T 14030-92 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-92

5、GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》 GB/T 14030-1992

6、GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 2.2

7、GB/T14030-92 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 2.1

8、GB/T 14030-92 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 2.1

9、SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

10、GB/T17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路第Ⅳ篇 方法37

检测报告作用：

1、项目招投标：出具权威的第三方CMA/CNAS资质报告；

2、上线电商平台入驻：质检报告各大电商平台认可；

3、用作销售报告：出具具有法律效应的检测报告，让消费者更放心；

4、论文及科研：提供专业的个性化检测需求；

5、司法服务：提供科学、公正、准确的检测数据；

6、工业问题诊断：验证工业生产环节问题排查和修正；