晶体硅太阳能电池与硅片检测

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样品大小：根据样品大小选择寄样或上门

展现样式:电子版

检测周期:3-15个工作日(可加急)

检测项目：

扫描电镜形貌分析,电*栅线宽高比,硅片方块电阻及电阻率,能谱法半定量分析

检测标准：

1、GB/T 14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法

2、JY/T 0584-2020 扫描电子显微镜分析方法通则

3、GB/T 1551-2009 硅单晶电阻率测定方法 方法1

4、SEMI PV66-0715-2015 光伏电池电*栅线高宽比的测量： 激光扫描共聚焦显微镜法

5、GB/T 1551-2021 硅单晶电阻率测定方法 GB/T 1551-2021

6、GB/T 17359-2012 微束分析 能谱法定量分析

百检检测流程：

1、电话沟通、确认需求；

2、推荐方案、确认报价；

3、邮寄样品、安排检测；

4、进度跟踪、结果反馈；

5、出具报告、售后服务；

6、如需加急、优先处理；