怎么鉴定芯片真伪和正品?全新正品辨别方法

2022-12-30  |  来源:互联网 47浏览

电子信息时代的来临,市场上电子产品琳琅满目,IC芯片、二*管等各种电子元器件也各式各样,真假难辨。我们不仅仅要是购买正品,而且还需要购买到型号相匹配的芯片,这样的芯片才能够让我们正常的去使用,通过正规的途径才能放心采购到质量保证的芯片。但是,也有很多产品在市场中鱼龙混珠,作为采购人员,怎么鉴定芯片真伪和正品?分享全新正品辨别方法仅供参考。

区别原装正货和翻新货的主要方法是:

1.看芯片表面是否有打磨过的痕迹

凡打磨过的芯片表面会有细纹甚至以前印字的微痕,有的为掩盖还在芯片表面涂有一层薄涂料,看起来有点发亮,无塑胶的质感。

2.看印字

现在的芯片绝大多数采用小字符喷码机喷印,字迹清晰,既不显眼,又不模糊且很难擦除。翻新的芯片要么字迹边沿受清洗剂腐蚀而有"锯齿"感,要么印字模糊、深浅不一、位置不正、容易擦除或过于显眼。丝印工艺现在的IC大厂早已淘汰,但很多芯片翻新因成本原因仍用丝印工艺,这也是判断依据之一,丝印的字会略微高于芯片表面,用手摸可以感觉到细微的不平或有发涩的感觉。

3.看引脚

凡光亮如"新"的镀锡引脚必为翻新货,正货IC的引脚绝大多数应是所谓"银粉脚",色泽较暗但成色均匀,表面不应有氧化痕迹或"助焊剂",另外DIP等插件的引脚不应有擦花的痕迹,即使有(再次包装才会有)擦痕也应是整齐、同方向的且金属暴露处光洁无氧化。

4.看器件生产日期和封装厂标号

正货的标号包括芯片底面的标号应一致且生产时间与器件品相相符,喷码机喷印的字符清晰统一,而Remark的翻新片标号混乱,生产时间不一。Remark的芯片虽然正面标号等一致,但有时数值不合常理(如标"吉利数")或生产日期与器件品相不符,器件底面喷码字符若很混乱也说明器件是Remark的。

5.测器件厚度和看器件边沿

不少原激光印字的打磨翻新片(功率器件居多)因要去除原标记,必须打磨较深,如此器件的整体厚度会明显小于正常尺寸,但不对比或用卡尺测量,一般经验不足的人还是很难分辨的,但有一变通识破法,即看器件正面边沿。因塑封器件注塑成型后须"脱模",故器件边沿角呈圆形(R角),但尺寸不大,打磨加工时很容易将此圆角磨成直角,故器件正面边沿一旦是直角的,可以判断为打磨货。除此之外,再有一法就是看商家是否有大量的原外包装物,包括标识内外一致的纸盒、防静电塑胶袋等,实际辨别中应多法齐用,有一处存在问题则可认定器件的货质。

避免假货流入风险的*佳做法,就是尽量从取得授权的正规渠道购买元器件,并对每批购入产品拍照留存。全新正品辨别方法如下:

(1)外观检测:外观检测通常使用光学显微镜,检查芯片的共面性、表面的印字、器件主体和管脚等,是否符合特定要求。

(2)X-ray检测:X-Ray透视检查是一种无损检查方法,可多角度观察物件内部结构。通过X-Ray透视、检查被测器件封体内部的晶粒、引线框、金线是否存在物理性缺陷。

(3)丙酮擦拭测试:丙酮擦拭是用一定浓度的丙酮对芯片正表面的丝印进行有规则地擦拭,其结果用于判断芯片表面是否为重新印字。

(4)开封、开盖测试:开封去盖是一种理化结合的试验,是将芯片外表面的环氧树脂胶体溶掉,保留完整的晶粒或金线,便于检查晶粒表面的重要标识、版图布局、工艺缺陷等。

(5)无铅检测:利用SEM/EDS对零件引脚或端子进行侦测,确认是否含铅,可以提供测试数据以及报告。

(6)电性检测/功能测试:利用IV曲线追踪仪和探针台进行IC各管脚及开封后各金线的曲线测试,包括:量产测试,开短路测试,漏电流测试。

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