检测：捕捉元器件封装内部缺陷

超声波显微镜，英文名Scanning Acoustic Tomography，简称SAT。超声波发射后传递到样品封装内部，如遇到任何缺陷点都会表现在反射波的形态中。设备根据反射波的形态计算出图像，检测人员可快速锁定缺陷的位置、尺寸和类型。

超声波显微镜分析在物料检测（IQC）、失效分析（FA）、质量控制（QC）、质量保证及可靠性检测（QA/REL）、研发（R&D）等方面都有广泛应用，适用于检测电子元器件、LED、金属基板的分层、裂纹、空洞等缺陷。

提到SAT，就很容易联想到同为无损检测的X-Ray，它们的成像原理不同，在实际检测工作中也是互补关系。本期内容我们将重点了解SAT测试，至于它们的差异我们以后有机会给大家介绍。

超声波扫描显微镜具有如下特性：

1：非破坏性，对样品内部封装状况不产生损伤；

2：检测时对样品无特殊要求，表面平整即可检测；

3：能得出直观的图像，便于分析；

4：对样品及人体无害；